¿Cuál fue el reto o problema a resolver?
Un importante cliente fabricante de electrónica industrial nos presentó este desafío cuando, durante una de las etapas del proceso productivo, detectó defectos estéticos en ciertos componentes electrónicos.
Lo particular de este caso era que no se había realizado ninguna modificación aparente en el proceso productivo que pudiera ser identificada como la causa de este cambio.
El objetivo principal del equipo de Ingeniería Forense de INFINITIA era determinar qué compuesto utilizado durante su fabricación era el responsable de este defecto estético. Este reto no solo implicaba identificar la causa subyacente del problema sino también seleccionar las técnicas analíticas adecuadas para llevar a cabo la investigación de manera eficiente y efectiva.
A continuación, se realizó una inspección visual detallada utilizando la microscopía electrónica de barrido (SEM), una técnica clave para examinar la morfología y estructura de las muestras a nivel microscópico.
Finalmente, se profundizó en el análisis de la composición del compuesto mediante el uso de técnicas como el detector de rayos X (EDX) acoplado a un microscopio SEM, y la espectroscopia de difracción de rayos X (XRD). El EDX proporcionó una visión semi-cuantitativa de la composición de la muestra, mientras que el XRD ofreció un análisis cualitativo y cuantitativo más detallado de la composición. Esta combinación de técnicas permitió al equipo descartar la presencia de impurezas o cambios estructurales que pudieran ser responsables del defecto estético.
A partir de estos resultados, se realizó un informe en el cual se planteaba el diagnostico causa-raíz, permitiendo al cliente acotar el problema y poder llevar a cabo medidas correctivas en fábrica para solucionarlo.
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